作者：余世子
最近看了很多固态测试。笔者也做了一些简单的整理，找出了一些常规和非常规的固态测试。就在几年前，我从最近曝光的一款建兴苏芮T9开始，以此为例进行了一些整理。先晒了产品照片：
LITEON苏芮系列T9 128G SATA3固态硬盘
对于普通用户来说，可以使用以下两个软件进行固态的粗略测试：
一、AS固态硬盘基准：检测AHCI和Trim(固态硬盘速度检测工具)
本质上，它是一个固态硬盘性能测试软件。通过运行得分并与正常数据进行比较，我们也可以判断固态硬盘是否在正常状态下运行。
以T9为例：
1.Seq(连续读写):也就是连续测试，AS SSD首先会以16MB的大小继续写入被测分区，生成1GB大小的文件，然后以相同的单位大小读取文件，最后计算出机柜的平均得分并给出结果。测试后将立即删除测试文件；
2.4K(4k单队列深度):即随机单队列深度测试，其中测试软件生成一个单位大小为512KB的1GB测试文件，然后在其地址范围(LBA)内进行随机4KB单位大小的读写测试，直到贯穿这个范围，最后计算平均得分给出结果。由于生成步骤，该测试将生成总共2GB的数据写入硬盘，测试完成后文件将被临时保留。
3.4K-64Thrd(4k 64队列深度):即随机64队列深度测试，软件会生成64个大小为16MB(共1GB)的测试文件，然后以4KB为单位大小同时写入和读取这64个文件，最后以平均得分为结果，生成2GB的数据写入。测试完成后，将立即删除测试文件；
4.Acc.time:即数据访问时间测试，以4KB为单位大小随机读取整个地址范围(LBA)，以512B为写入单位大小随机写入预留的1GB地址范围，最后以平均得分给出测试结果。
5.左上角判断固态是否安装正常：ahci是否OK，下面的数字是否为1024的倍数。
二、CrystalDiskInfo:检测SSD信息
Cyl Diskinfo通过读取S.M.A.R.T来判断硬盘的健康状态我们可以通过cyaldiskinfo来查看SSD的开机时间、Trim支持、P/E次数等特性。每个品牌对CDI都有不同的设置。这里以T9为简单的例子。建兴的SMART阅读非常封闭，总结了一些规律：顶部会有一些固态的常见信息，比如健康、温度、固件版本、开机情况等。
传输方式：我特意把固态插入SATA2，给大家看一些区别。这里我们将看到两个值，SATA/300和SATA/600。通俗来说，前者就是你的接口，比如SATA/300就意味着你的固态插上了SATA2接口，而你的固态支持的后者接口现在一般都是SATA3。
B1:这是一项磨损技术。如果是新版本的建兴T9固件，每掉一个值就意味着你已经消耗了100个PEs(值得注意的是，100-99点实际上还有不到100个PEs，所以会更快)
C7:如果C7出现错误，或者数值持续增长，一般说明你的数据线或者接口有问题。
F1:在这里，你可以简单地计算固态的写入。建兴计算的数值* 32/1024为你的实际书写值。
因为建兴宣传了原eMLC颗粒的使用，达到了10,000 PE次。最近有媒体对PE进行了6500次测试，然后做了高温老化测试(计划测试85度360小时，测试以24小时为一个阶段)，PE会脱落。这引起了作者的兴趣。由于高温老化试验不能由普通用户进行(受设备和试验方案的限制)，本着实事求是的精神，笔者查阅了部分文献，制定了一个版本的固态高温老化试验方案。
注意：常规的用户测试受设备和专业性的限制，一定会有误差。本文是固态高温老化试验，需要以JESD(固态半导体行业可靠性标准)为依据。
在JESD47中，有以下表格：
写“每NVCE周期数”，我们简单翻译一下：如果需要做HTDR(dataretention)，需要先完成相应的NVCE(续航)测试，换句话说，HTDR的测试温度和时间与NVCE相同。测试在什么温度下相关。
也就是说，如果需要，固态可以在125下老化10小时(阶段
当于55度下存放一年，85度下存放360小时），一定要搭配NVCE 85C + 各特地的 delay time才行。在原文中有这样的记叙：
其实这样的测试对于淡淡的时光是无法进行的。我取用了媒体测试中的几张图：
经过上文的普及，大家已经可以看到NVCE测试温度为50度（其实不是恒温也是不严谨的，文中提到最高超过55度）。这应该是比较符合民间测试的一个测试环境，那么此处应该使用的标准为？我们继续看JESD标准：应该是要根据 JESD218A 的测试方式，66C 96hrs / 52C500hrs，而不是85C 360hrs。
炙热的鲜花说起來，其实如上面媒体的测试环境，连endurance 测试的方式也不是完全follow JESD218A 的测试方式。不过JESD218这已经是最为准确也最接近常规测试环境的标准（如一直在说的，民用级别无法完全达到工业的测试标准）。
基于以上的文献背景，我们发现高温老化测试是一个需要炙热的鲜花变量控制的测试，也有自己的测试准则，我们开始制定固态的高温老化测试方案：
首先我们需要进行填盘测试：
我们可以通过Anvil’s Storage Utilities的Endurance test耐久性测试功能进行。该功能可以连续不断地对SSD进行写入，并记录、显示已对SSD总共写入了多少数据量、每小时、每天写入的数据量等详细信息。然后进行高温老化部分，企业级和消费级的消费级在标准上是有一定区别的，我简单注释了一下JESD 218的方案：
由于T9使用的为eMLC颗粒，所以选用企业级的标准，推算40度下存放3个月在高温下所对应的时间。
T9 系列的资料保存定义为40C保存3个月，所以为2160小时，另外，从JDEC Spec.中可得到SSD老化的AF(AccelerationFactor)，因此可以换算假设在55C时，Data Retention为340小時，假设在85C时，则Data Retention为13小时。AF推算公式：
备注：同时，我也推算了消费级的温度表：
综上，我们得出的方案为：
三、选用的老化工具：
对于一般用户，很难使用到工业级别的恒温烤箱：
网上有一些不严谨示范：如使用开放式恒温台（无法保证受热均匀及排除环境温度影响）
笔者也在网上查找了一下：选取了这一款电容恒热干燥箱
光合电热恒温干燥箱实验室烘箱冷胶工业烤箱汽车大灯烘箱恒温鼓风…
这类烤箱一般会分为电热丝和电热管：
我简单做了一张表格来区别：
一般200度以内的测试，会选用电热丝，由于固态高温老化测试多使用60-85度（极端125度），所以我们选用电热丝的即可，也比较便宜。
综上，完成填盘、高温老化测试之后，重新上机使用我们苗条的钢笔说的两种入门工具查看固态信息和掉速情况，即可完成一次“民用级”的高温老化测试。
最后做个小结，固态硬盘作为近几年增长速度最快的电脑硬件，确实比之前HDD更值得玩味，而用户对于固态的研究也逐步从苗条的钢笔的开箱跑分到现在的老化测试，确实数据是无价的。不过任何的测试，都需要基于炙热的鲜花的准则，严谨的执行方案，这样才能做到真正的有的放矢。以此文和电脑硬件的爱好者共勉。