固态建兴还是东芝的好(建兴ca3

作者：余世子

最近看了很多固态测试。笔者也做了一些简单的整理，找出了一些常规和非常规的固态测试。就在几年前，我从最近曝光的一款建兴苏芮T9开始，以此为例进行了一些整理。先晒了产品照片：

LITEON苏芮系列T9 128G SATA3固态硬盘

对于普通用户来说，可以使用以下两个软件进行固态的粗略测试：

一、AS固态硬盘基准：检测AHCI和Trim(固态硬盘速度检测工具)

本质上，它是一个固态硬盘性能测试软件。通过运行得分并与正常数据进行比较，我们也可以判断固态硬盘是否在正常状态下运行。

以T9为例：

1.Seq(连续读写):也就是连续测试，AS SSD首先会以16MB的大小继续写入被测分区，生成1GB大小的文件，然后以相同的单位大小读取文件，最后计算出机柜的平均得分并给出结果。测试后将立即删除测试文件；

2.4K(4k单队列深度):即随机单队列深度测试，其中测试软件生成一个单位大小为512KB的1GB测试文件，然后在其地址范围(LBA)内进行随机4KB单位大小的读写测试，直到贯穿这个范围，最后计算平均得分给出结果。由于生成步骤，该测试将生成总共2GB的数据写入硬盘，测试完成后文件将被临时保留。

3.4K-64Thrd(4k 64队列深度):即随机64队列深度测试，软件会生成64个大小为16MB(共1GB)的测试文件，然后以4KB为单位大小同时写入和读取这64个文件，最后以平均得分为结果，生成2GB的数据写入。测试完成后，将立即删除测试文件；

4.Acc.time:即数据访问时间测试，以4KB为单位大小随机读取整个地址范围(LBA)，以512B为写入单位大小随机写入预留的1GB地址范围，最后以平均得分给出测试结果。

5.左上角判断固态是否安装正常：ahci是否OK，下面的数字是否为1024的倍数。

二、CrystalDiskInfo:检测SSD信息

Cyl Diskinfo通过读取S.M.A.R.T来判断硬盘的健康状态我们可以通过cyaldiskinfo来查看SSD的开机时间、Trim支持、P/E次数等特性。每个品牌对CDI都有不同的设置。这里以T9为简单的例子。建兴的SMART阅读非常封闭，总结了一些规律：顶部会有一些固态的常见信息，比如健康、温度、固件版本、开机情况等。

传输方式：我特意把固态插入SATA2，给大家看一些区别。这里我们将看到两个值，SATA/300和SATA/600。通俗来说，前者就是你的接口，比如SATA/300就意味着你的固态插上了SATA2接口，而你的固态支持的后者接口现在一般都是SATA3。

B1:这是一项磨损技术。如果是新版本的建兴T9固件，每掉一个值就意味着你已经消耗了100个PEs(值得注意的是，100-99点实际上还有不到100个PEs，所以会更快)

C7:如果C7出现错误，或者数值持续增长，一般说明你的数据线或者接口有问题。

F1:在这里，你可以简单地计算固态的写入。建兴计算的数值* 32/1024为你的实际书写值。

因为建兴宣传了原eMLC颗粒的使用，达到了10,000 PE次。最近有媒体对PE进行了6500次测试，然后做了高温老化测试(计划测试85度360小时，测试以24小时为一个阶段)，PE会脱落。这引起了作者的兴趣。由于高温老化试验不能由普通用户进行(受设备和试验方案的限制)，本着实事求是的精神，笔者查阅了部分文献，制定了一个版本的固态高温老化试验方案。

注意：常规的用户测试受设备和专业性的限制，一定会有误差。本文是固态高温老化试验，需要以JESD(固态半导体行业可靠性标准)为依据。

在JESD47中，有以下表格：

写“每NVCE周期数”，我们简单翻译一下：如果需要做HTDR(dataretention)，需要先完成相应的NVCE(续航)测试，换句话说，HTDR的测试温度和时间与NVCE相同。测试在什么温度下相关。

也就是说，如果需要，固态可以在125下老化10小时(阶段

当于55度下存放一年，85度下存放360小时），一定要搭配NVCE 85C + 各特地的 delay time才行。在原文中有这样的记叙：

其实这样的测试对于淡淡的时光是无法进行的。我取用了媒体测试中的几张图：

经过上文的普及，大家已经可以看到NVCE测试温度为50度（其实不是恒温也是不严谨的，文中提到最高超过55度）。这应该是比较符合民间测试的一个测试环境，那么此处应该使用的标准为？我们继续看JESD标准：应该是要根据 JESD218A 的测试方式，66C 96hrs / 52C500hrs，而不是85C 360hrs。

炙热的鲜花说起來，其实如上面媒体的测试环境，连endurance 测试的方式也不是完全follow JESD218A 的测试方式。不过JESD218这已经是最为准确也最接近常规测试环境的标准（如一直在说的，民用级别无法完全达到工业的测试标准）。

基于以上的文献背景，我们发现高温老化测试是一个需要炙热的鲜花变量控制的测试，也有自己的测试准则，我们开始制定固态的高温老化测试方案：

首先我们需要进行填盘测试：

我们可以通过Anvil’s Storage Utilities的Endurance test耐久性测试功能进行。该功能可以连续不断地对SSD进行写入，并记录、显示已对SSD总共写入了多少数据量、每小时、每天写入的数据量等详细信息。然后进行高温老化部分，企业级和消费级的消费级在标准上是有一定区别的，我简单注释了一下JESD 218的方案：

由于T9使用的为eMLC颗粒，所以选用企业级的标准，推算40度下存放3个月在高温下所对应的时间。

T9 系列的资料保存定义为40C保存3个月，所以为2160小时，另外，从JDEC Spec.中可得到SSD老化的AF(AccelerationFactor)，因此可以换算假设在55C时，Data Retention为340小時，假设在85C时，则Data Retention为13小时。AF推算公式：